使用絕緣電阻測試儀的幾個常見問題解答

1． 在高壓高阻的測試環(huán)境中，為什么要求儀表接"G"端連線？
在被測試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時，被測試品表面受潮濕，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀表"G"端是將被測試品表面泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測試回路，消除泄漏電流引起的誤差。

2. 為什么測絕緣時，不但要求測單純的阻值，而且還要求測吸收比，極化指數(shù)，有什么意義？
在絕緣測試中，某一個時刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因，一方面，同樣性能的絕緣材料，體積大時呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時呈現(xiàn)的絕緣電阻大。 另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比過程和極化過程。 所以，電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場合的絕緣測試中應(yīng)測量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值，并以此數(shù)據(jù)來判定絕緣狀況的優(yōu)劣。

3. 在測容性負(fù)載阻值時，絕緣電阻測試儀輸出短路電流大小與測量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么?
絕緣電阻測試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測試品存在電容量時，在測試過程的開始階段，絕緣電阻測試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻測試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過程的耗時就會加長。其長度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）。請注意，給電容充電的電流與被測試品絕緣電阻上流過的電流，在測試中是一起流入絕緣電阻測試儀內(nèi)的。絕緣電阻測試儀測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時測得的阻值將偏小。
如：額定電壓為5000V的絕緣電阻測試儀，若其短路輸出電流為80μA（日本共立產(chǎn)），其內(nèi)阻為5000V/80μA＝62MΩ
如：試品容量為0.15μF，則時間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 （秒）即在18秒時刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。
所以，為保障準(zhǔn)確測得R15s，R60s的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀。我國的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀。

4．在校測某些型號絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時，用指針式萬用表DCV檔測L、E兩端電壓，為什么電壓會跌落很多，而數(shù)字式萬用表則不會？
用普通的指針式萬用表直接在絕緣電阻測試儀"L"、"E"兩端測量其輸出的額定直流電壓，測量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多（超出誤差范圍），而用數(shù)字萬用表則不會。這是因?yàn)橹羔樖饺f用表內(nèi)阻較小，而數(shù)字萬用表內(nèi)阻相對較大。指針式萬用表內(nèi)阻較小，絕緣電阻測試儀L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時的輸出電壓。但是，用萬用表直接去測絕緣電阻測試儀的輸出電壓是錯誤的，應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測量。

5．能不能用兆歐表直接測帶電的被測試品，結(jié)果有什么影響，為什么？
為了人身安全和正常測試，原則上是不允許測量帶電的被測試品，若要測量帶電被測試品，不會對儀表造成損壞（短時間內(nèi)），但測試結(jié)果是不準(zhǔn)確的，因?yàn)閹щ姾螅粶y試品便與其它試品連結(jié)在一起，所以得出的結(jié)果不能真實(shí)的反映實(shí)際數(shù)據(jù)，而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。